Deák András (MTA-MFA), Bársony István (MTA-MFA/PE-NT), Battistig Gábor (MTA-MFA), Fürjes Péter (MTA-MFA)

Integrált (nano)érzékelés az analitika szolgálatában

Évfolyam
115. évfolyam (2009), 115. évfolyam 1. szám
DOI
10.24100/MKF.2009.18
Első szerző
Deák András (MTA-MFA)
Szerzők
Bársony István (MTA-MFA/PE-NT), Battistig Gábor (MTA-MFA), Fürjes Péter (MTA-MFA)
Affiliációk
MTA Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet, Pannon Egyetem – Nanotechnológia Tanszék

A cikk az integrált (nano)érzékelés szerepét mutatja be az analitikai feladatok megoldásában. A szerzők ismertetik az integrált elektronikai eszközök fejlődését és a More than Moore irányzatot. Bemutatják az integrált analitikai fejlesztések célját és előnyeit, különös tekintettel a helyszíni szűrővizsgálatokra és mobil monitorozó egységekre. A közlemény kitér az integrált érzékelést célzó kutatások multidiszciplináris jellegére, kiemelve a mikro- és nanotechnológia, biológia és elektro-optika határterületeit. Részletesen tárgyalják az MTA Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézetében folyó nano-kutatási irányzatokat.